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核心参数
- 单晶分类：IIa型（高纯）
- 仪器种类：实验室
- 测定原理：其它
- 测定范围：0.01~5mg/L
- 测定准确度：±1%
- 检出限 ：≤0.005mg/L
- 测定时间：30样品/小时
- 批处理量：不限
产品介绍
| 常规产品 | |
|---|---|
| 晶面: | {100} |
| 尺寸（长宽）: | 1mm×1mm-20mm×20mm |
| 厚度: | 0.2mm-3mm |
| 横向公差: | ±0.05mm |
| 表面粗糙度: | 普通（Ra≤5nm）；精抛（Ra≤1nm） |
| 杂质浓度: | N≤5ppm；B & Si小于SIMS检测下限 |
| XRD FWHM: | 100arcsec；60arcsec；40arcsec（可选） |
| XRD offset: | ＜3° |
| 位错密度: | ＜10^5/cm |
| 热导率: | ＞2000 W/m·K |
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