核心参数
- 器件类型:二极管
- 掺杂类型:p型(硼)
- 仪器种类:实验室
- 测定原理:其它
- 测定范围:0.01~5mg/L
- 测定准确度:±1%
- 检出限 :≤0.005mg/L
- 测定时间:30样品/小时
- 批处理量:不限
产品介绍
本系统主要用于薄膜及块体材料变温的热释电性能测试。
薄膜材料变温范围:-196℃到+600℃;
块体材料变温范围:室温到200℃、室温到600℃、室温到800℃、-100℃到+600℃、-184℃到+315℃五种夹具可选。
测试结果可得到:
热释电电流、热释电系数、剩余极化强度对温度和时间的曲线。

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欣源科技(北京)有限公司
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