美国easyXAFS公司**推出easyXES150，具备与同步辐射装置相媲美的硬X射线发射光谱(XES)功能和透射X射线吸收谱(XAFS)功能。以极高的灵敏度和光源质量，实现对元素氧化态、配位结构分析、局部电子结构的分析。广泛应用于电池、催化剂、环境、放射性化学、地质、陶瓷、半导体、液体研究领域。

设备参数

- X射线源：X射线光管（Pd/W）

- 能量范围：4.5-20 KeV

- 检测极限：ppm浓度

- 罗兰圆尺寸：10 cm

- XES空核生成率：~1012/s

- XES数据重复性：≤25 meV

- 布拉格角范围：55-85°

- 样品轮：七位样品轮

- 探测器：硅漂移探测器

- 软件：Python